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澤塔zeta 三維光學輪廓儀

  • 產(chǎn)品型號：zeta-20
  • 更新時間：2024-08-20

簡要描述：澤塔zeta 三維光學輪廓儀：的三維成像和測量，多功能光學測試模組，多樣化的測試平臺（手動、自動測試臺）
Z*的3D成像及測試系統(tǒng) （為用戶量身打造的表面輪廓測量設備，是表面量測領域的Z佳選擇 ）
從深槽到金剛石鋼線，Zeta-20強大的成像能力可對各種復雜表面進行測量。通常這些表面由于太粗糙、太暗或是坡度太陡而無法用其它設備測量。

產(chǎn)品詳情

型號：Zeta-20
產(chǎn)品：澤塔zeta 三維光學輪廓儀

品牌：Zeta澤塔

簡介：zui*的3D成像及測試系統(tǒng) （為用戶量身打造的表面輪廓測量設備，是表面量測領域的*選擇 ）

  

特點

 

◆  功能齊全，操作簡易，用途廣泛的Zeta-20

  ZDotTM技術擅于對高粗糙度、低反射率的表面進行成像分析

  ·具有防反射涂層的太陽能電池片
  ·圖形化/蝕刻的LED基板
  ·生物微機電、微機電系統(tǒng)和微流體槽
  ·透明的多表面樣品成像

  快速獲取數(shù)據(jù)

  ·可配置快于10秒掃一幅三維圖像的采集速度
  ·簡明易學的軟件操作界面

  強大的三維分析功能

  ·臺階高度、粗糙度、面積、體積、角度及其它表面屬性
  ·數(shù)據(jù)輸出格式與常見的第三方分析軟件可兼容
 
 ◆ 高度的靈活性

  測量復雜的表面特征

  從深槽到金剛石鋼線，Zeta-20強大的成像能力可對各種復雜表面進行測量。通常這些表面由于太粗糙、太暗或是坡度太陡而無法用其它設備測量。

  選項配置齊全

  在科研過程中所涉及的樣品表面類型往往難以預測。因此，Zeta-20使用模塊化設計理念，為用戶提供了一系列的硬件和軟件選項來滿足各種不同的測量需求。
  ·薄膜厚度光譜儀
  ·可測量納米級粗糙度的QDIC/Nomarski選項
  ·iX5干涉物鏡
  ·Z軸分辨率高達2nm的壓電陶瓷載臺
  ·傾斜載臺和真空吸附卡具
  ·自動特征提取和測量軟件
  ·自動表面面積測量、統(tǒng)計分析 ...以及其它眾多選項！

 
 

 

 
◆  特定行業(yè)的測量應用

  太陽能電池片表面分析：

  ·自動測量柵線的高度、寬度和體積
  ·單晶硅和多晶硅表面面積和絨面分析
  ·氮化硅防反射層薄膜厚度測量
  ·多點、自動柵線測量
  ·156mm太陽能電池片真空吸附載臺
  LED 和圖形化藍寶石基板(PSS)分析
  ·自動測量PSS高度、尺寸和周期
  ·分析光阻和蝕刻后PSS特征
  ·自動定位和測量外延后Mesa的粗糙度
  ·適用于2"、4"和6"晶圓的真空載臺
  微流體和微機電的測量分析
  ·透明的多層表面輪廓測量
  ·深槽、深井以及其它高縱深比的特征點測量
  ·靈活的、可自定義的橫截面及測量點的設置
  簡便、易用的測量方法
  ·自動載物臺支持多點測量序列和三維圖像拼接
  ·自動坡度和波度補償
  ·自動將待測表面調(diào)成水平
  ·自動測量高度、尺寸、角度、面積和體積
  ·自動測量線粗糙度和面粗糙度
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